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用量子成像技术寻找系外行星

宇宙和系外行星 (图片来源:Pixabay)

在已知的大约4500个系外行星中,只有约1%的行星是通过对其直接成像而发现的。直接探测率低的原因是,从系外行星散射出的暗淡光线在行星母星的强光下很难被识别。现在澳大利亚麦考瑞大学的Zixin Huang和英国谢菲尔德大学的Cosmo Lupo预测,量子成像技术能够显著提高直接探测到系外行星的概率。他们还表明,这项任务的灵敏度极限已经可以通过目前已有的两种技术实现——一种基于干涉测量法(interferometry),另一种是将来自恒星图像中的光分解为不同的空间模式。

用来区分两种量子态假设的光学成像系统 (图片来源:Z. Huang and C. Lupo )

Huang和Lupo将寻找行星的任务视作对量子态的辨别,其中两种量子态——“恒星加行星”和“仅恒星”——与检测到的光子的空间分布相关。他们发现,正确区分这些状态的概率取决于恒星与行星的星间角距、恒星与行星的亮度比以及望远镜收集到的光子数。

量子相对熵和DI相对熵的比较 (图片来源:Z. Huang and C. Lupo )

研究人员预测,随着上述变量的变化,他们所开发量子方法“辨别错误”的概率与经典方法不同。他们发现,只有量子成像技术才能达到基本误差概率的极限。因此,与现存的方法相比,量子技术可能能够探测到那些更暗、更靠近恒星或者二者兼具的系外行星。

作者:Marric Stephens

翻译:陈曦

审校:张楚

引进来源:美国物理学会

本文来自:中国数字科技馆
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